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| 标准编号 |
IEC 62047-8-2011 |
标准名称 |
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| 英文名称 |
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 8: Strip bending test method for tensile property measurement of thin films |
代
替 号 |
IEC 47F/71/FDIS-2010 |
| 采用标准 |
C96-050-8PR,IDT |
| 归口单位 |
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| 起草单位 |
IEC/SC 47F |
分
类 号 |
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国际分类号 |
31.080.01;31.220.01 |
发布日期 |
2011-03 |
实施日期 |
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| 内容介绍 |
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