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| 标准编号 |
DD ENV 50219-1996 |
标准名称 |
欧洲微型试验芯片的可靠性试验结构描述 |
| 英文名称 |
Description of the reliability test structures of the European mini test chip |
代
替 号 |
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| 采用标准 |
ENV 50219-1996,IDT |
| 归口单位 |
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| 起草单位 |
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分
类 号 |
L55 |
国际分类号 |
31.200 |
发布日期 |
1996-09-15 |
实施日期 |
1996-09-15 |
| 内容介绍 |
失效;系统分析;集成电路;计算机应用;数字集成电路;微处理机芯片;电子设备及元件;晶体管;半导体器件;金属氧化物半导体;尺寸;模数;估计可靠性;试验设备;可靠度 |
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