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 现行标准检索 |
| 标准编号 |
BS QC 750112-1988 |
标准名称 |
电子元器件质量评估协调体系.空白详细规范.半导体器件.分立器件.场效应晶体管.功率达5W和1GHz的单栅场效应 |
| 英文名称 |
Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components - Blank detail specification - Semiconductor devices - Discrete devices - Field-effect transistors - Blank detail specification for single-gate field-effect transistors, up to 5 W and 1 GHz |
代
替 号 |
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| 采用标准 |
IEC 60747-8-1-1987,IDT |
| 归口单位 |
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| 起草单位 |
BSI |
分
类 号 |
L44 |
国际分类号 |
31.080.30 |
发布日期 |
1988-12-15 |
实施日期 |
1988-12-15 |
| 内容介绍 |
半导体器件;电子设备及元件;认可试验;试验条件;质量保证体系;性能;质量评估;质量评估;资格鉴定;试验设备;详细规范;电气试验;评估的质量;检验;电路;晶体管;单结晶体管;场效应晶体管 |
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