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现行标准检索 |
标准编号 |
BS ISO 16700-2004 |
标准名称 |
微电子束分析.扫描电子显微镜.图像放大校准指南 |
英文名称 |
Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Guidelines for calibrating image magnification |
代
替 号 |
00/124017 DC-2000 |
采用标准 |
ISO 16700-2004,IDT |
归口单位 |
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起草单位 |
BSI |
分
类 号 |
N33 |
国际分类号 |
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发布日期 |
2004-09-29 |
实施日期 |
2004-09-29 |
内容介绍 |
Scanning electron microscopes;Electron microscopes;Microscopes;Optical instruments;Electron optics;Electron beams;Magnification;Optical phenomena;Calibration;Control samples;Accuracy |
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