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| 标准编号 |
BS IEC 60748-23-2-2002 |
标准名称 |
半导体器件.集成电路.混合集成电路和薄膜结构.生产线认证.内部目视检查和特殊试验 |
| 英文名称 |
Semiconductor devices - Integrated circuits - Hybrid integrated circuits and film structures - Manufacturing line certification - Internal visual inspection and special tests |
代
替 号 |
94/216399 DC-1994 |
| 采用标准 |
IEC 60748-23-2-2002,IDT |
| 归口单位 |
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| 起草单位 |
BSI |
分
类 号 |
L56 |
国际分类号 |
31.200 |
发布日期 |
2002-06-21 |
实施日期 |
2002-06-21 |
| 内容介绍 |
电子工程;半导体器件;试验;集成电路;定义;定义;能力鉴定;膜集成电路;混合薄膜集成电路;混合集成电路;薄膜电路;电子设备及元件;外观检查(试验) |
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