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标准编号

 BS EN 60749-8-2003
标准名称
 半导体器件.机械和气候试验方法.密封

英文名称

 Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Sealing
代 替 号
 BS EN 60749-1999

采用标准

 EN 60749-8-2003,IDT;IEC 60749-8-2002,IDT;IEC 60749-8 Corrigendum 2-2003,NEQ

归口单位

 

起草单位

 BSI
分 类 号
 L40
国际分类号
 31.080.01
发布日期
 2003-07-03
实施日期
 2003-07-03

内容介绍

 大气压;温度变化;气候;气候试验;组件;定义(术语);尺寸规格;电气工程;电学测量;电子工程;电子设备及元件;环境;环境测试;环境试验;易燃性;热学;集成电路;漏泄试验;机械测试;潮气;耐力;密封件;半导体器件;半导体;温度;试验;密封性;外观检查(测试)


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