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 现行标准检索 |
| 标准编号 |
BS EN 60749-8-2003 |
标准名称 |
半导体器件.机械和气候试验方法.密封 |
| 英文名称 |
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Sealing |
代
替 号 |
BS EN 60749-1999 |
| 采用标准 |
EN 60749-8-2003,IDT;IEC 60749-8-2002,IDT;IEC 60749-8 Corrigendum 2-2003,NEQ |
| 归口单位 |
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| 起草单位 |
BSI |
分
类 号 |
L40 |
国际分类号 |
31.080.01 |
发布日期 |
2003-07-03 |
实施日期 |
2003-07-03 |
| 内容介绍 |
大气压;温度变化;气候;气候试验;组件;定义(术语);尺寸规格;电气工程;电学测量;电子工程;电子设备及元件;环境;环境测试;环境试验;易燃性;热学;集成电路;漏泄试验;机械测试;潮气;耐力;密封件;半导体器件;半导体;温度;试验;密封性;外观检查(测试) |
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