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 现行标准检索 |
| 标准编号 |
BS EN 60749-37-2008 |
标准名称 |
半导体装置.机械和气候试验方法.使用加速计的电路板级落锤试验方法 |
| 英文名称 |
Semiconductordevices — Mechanicaland climatic testmethods —Part 37: Board level drop test methodusing an accelerometer |
代
替 号 |
05/30135664 DC-2005 |
| 采用标准 |
EN 60749-37-2008,IDT;IEC 60749-37-2008,IDT |
| 归口单位 |
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| 起草单位 |
BSI |
分
类 号 |
L40 |
国际分类号 |
31.080.01 |
发布日期 |
2008-05-30 |
实施日期 |
2008-05-30 |
| 内容介绍 |
加速测量仪;加速计;应用;壳体;气候;气候试验;组件;定义;设计;跌落试验;电气工程;电子的;电子设备及元件;故障分析;故障标准;仪器;机械工人;机械测试;印制电路板;半导体器件;半导体;标准化;测试 |
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