| 标准编号 |
BS EN 60749-18-2003 |
标准名称 |
半导体器件.机械和气候试验方法.电离辐射(总剂量) |
| 英文名称 |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Ionizing radiation (total dose) |
代
替 号 |
00/203285 DC-2000;BS EN 60749-1999 |
| 采用标准 |
EN 60749-18-2003,IDT;IEC 60749-18-2002,IDT |
| 归口单位 |
|
| 起草单位 |
BSI |
分
类 号 |
L40 |
国际分类号 |
31.080.01 |
发布日期 |
2003-03-13 |
实施日期 |
2003-03-13 |
| 内容介绍 |
半导体;定义;电子工程;电离辐射;电子设备及元件;集成电路;半导体器件;辐射效果;试验;气候;环境试验;气候试验;电气工程;元部件;机械试验;电学测量;破坏试验 |
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