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 现行标准检索 |
| 标准编号 |
BS EN 60444-2-1993 |
标准名称 |
石英晶体元件参数的测定.第2部分:用相位偏离法测量石英晶体单元的动态电容 |
| 英文名称 |
Measurement of quartz crystal unit parameters - Phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units |
代
替 号 |
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| 采用标准 |
EN 60444-2-1997,IDT;IEC 60444-2-1980,IDT |
| 归口单位 |
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| 起草单位 |
BSI |
分
类 号 |
L21 |
国际分类号 |
31.140 |
发布日期 |
1993-09-15 |
实施日期 |
1993-09-15 |
| 内容介绍 |
电容测量;电路网络;测量用连接件;晶体(电子);动态的;电气工程;测量;测量精度;测量技术;运动的;参数;相位测量(电);相位补偿法;压电的;压电器件;压电;测量原理;零相位;零位法 |
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