| 标准编号 |
BS CECC 90000 Addendum No. 1-1983 |
标准名称 |
电子元器件用质量评估协调体系.一般规范:单块集成电路.内部目测检验 |
| 英文名称 |
Harmonized system of quality assessment for electronic components - Generic specification: monolithic integrated circuits - Internal visual inspection |
代
替 号 |
80/27840 DC |
| 采用标准 |
DIN 45940-1-1982,IDT;CECC 90000-1990,IDT |
| 归口单位 |
|
| 起草单位 |
BSI |
分
类 号 |
L56;L00 |
国际分类号 |
31.200 |
发布日期 |
1983-07-29 |
实施日期 |
1983-07-29 |
| 内容介绍 |
电路;集成电路;外观检查(试验);喷镀金属;检验;显微分析;认可试验;质量保证体系;电子设备及元件;试验条件;缺陷;资格鉴定;粒度分布;表面缺陷;单片集成电路;规范(验收);质量控制;钝化 |
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