|
 现行标准检索 |
| 标准编号 |
ASTM F1192-2000(2006) |
标准名称 |
半导体器件重离子照射感应产生的单件信号现象的测量标准指南 |
| 英文名称 |
Standard Guide for the Measurement of Single Event Phenomena (SEP) Induced by Heavy Ion Irradiation of Semiconductor Devices |
代
替 号 |
|
| 采用标准 |
|
| 归口单位 |
|
| 起草单位 |
F01.11 |
分
类 号 |
L40 |
国际分类号 |
31.080.01 (Semi-conductor devices in general) |
发布日期 |
2000 |
实施日期 |
|
| 内容介绍 |
|
|
