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国际标准化组织颗粒表征含筛分技术委员会全会及分会在上海召开
来源:全国颗粒表征与分检及筛网标委会     日期:2018/10/29 10:17:33
 

国际标准化组织颗粒表征含筛分技术委员会(ISO/TC 24)全会及分会在上海召开

    由国家标准化管理委员会主办、中机生产力促进中心和上海第二工业大学联合承办的国际标准化组织颗粒表征与筛分技术委员会(ISO/TC 24)标准工作会于2018年10月15-17日在上海成功举办。来自德国、英国、比利时、美国、日本和中国的68名代表参加了本次会议。机械科学研究总院行业发展部部长黄雪、中机生产力促进中心主任邱城、上海第二工业大学副校长莫亮金出席了本次会议并致辞。

    本次会议包括国际标准化组织颗粒表征与筛分技术委员会(ISO/TC24)第15次会议、颗粒分技术委员会(ISO/TC24/SC4)第55次会议、试验筛筛分和工业网分技术委员会(ISO/TC24/SC8)第3次会议。会议期间,会议代表讨论了《粒度分析 激光衍射法》、《颗粒系统的颗粒特性 词汇》等国际颗粒表征与筛分标准制修订和未来战略发展规划。ISO/TC24主席Michael Stintz先生和秘书长Steffen Jenkel先生对本次会议的策划和组织工作给予了高度评价和肯定,并对主办方和承办方表示赞许和感谢,会议取得圆满成功。

    本次国际标准化会议成功举办,将对提高我国在国际颗粒表征技术及筛分标准化领域的显示度,及深入参与相关国际标准化活动有着深远的意义。


 
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