随着焦平面研究和应用工作的发展，我国红外探测器已从多元组件向焦平面组件过渡，正在向着更大规模、多色红外焦平面技术的方向发展，红外焦平面特性参数的描述和测试带来新的内容。因此，为适应红外焦平面技术研究和系统应用工作的发展，需要对GB/T17444-1998《红外焦平面阵列特性参数测试技术规范》标准进行修订。本规范是为满足这种需要而修订的。